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金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)是一種電壓控制器件,由源極、漏極、柵極和主體等端子構(gòu)成,用于放大或切換電路內(nèi)的電壓,也廣泛用于數(shù)字應(yīng)用的 IC。此外,也用于放大器和濾波器等模擬電路。MOSFET的設(shè)計(jì)主要是為了克服FET的缺點(diǎn),例如高漏極電阻、中等輸入阻抗和運(yùn)行緩慢。MOSFET有增強(qiáng)型和耗盡型兩種。本文主要介紹耗盡型MOSFET,以及它的使用場景。
什么是耗盡型MOSFET?
連接時(shí)通常打開而不施加任何柵極電壓的MOSFET稱為耗盡型MOSFET。在這個(gè)MOSFET中,電流從漏極端流向源極。這種類型的MOSFET也被稱為通常在設(shè)備上。
一旦在MOSFET的柵極端施加電壓,源極溝道的漏極將變得更具電阻。當(dāng)柵源電壓增加更多時(shí),從漏極到源極的電流將減少,直到電流從漏極到源極的流動(dòng)停止。
耗盡型MOSFET符號(hào)
p 溝道和 n 溝道的耗盡型MOSFET符號(hào)如下所示。在這些MOSFET中,箭頭符號(hào)表示MOSFET的類型,如 P 型或 N 型。如果箭頭符號(hào)在內(nèi)部方向,則它是 n 通道,如果箭頭符號(hào)在外部,則它是 p 通道。
耗盡型MOSFET如何工作?
默認(rèn)情況下會(huì)激活耗盡型MOSFET。在這里,源極和漏極是物理連接的。要了解MOSFET的工作原理,讓我們了解耗盡型MOSFET的類型。
耗盡型MOSFET的類型
耗盡型MOSFET結(jié)構(gòu)因類型而異。MOSFET有兩種類型的 p 溝道耗盡模式和 n 溝道耗盡模式。因此,下面將討論每種耗盡型MOSFET結(jié)構(gòu)及其工作原理。
N 溝道耗盡型MOSFET
N溝道耗盡型MOSFET的結(jié)構(gòu)如下圖所示。在這種耗盡型MOSFET中,源極和漏極通過一小條 N 型半導(dǎo)體連接。這種MOSFET中使用的襯底是 P 型半導(dǎo)體,電子是這種MOSFET中的主要電荷載流子。在這里,源極和漏極被重?fù)诫s。
N 溝道耗盡型MOSFET結(jié)構(gòu)與增強(qiáng)型 n 溝道MOSFET結(jié)構(gòu)相同,只是其工作方式不同。源極和漏極端子之間的間隙由n型雜質(zhì)組成。
當(dāng)我們在源極和漏極等兩個(gè)端子之間施加電位差時(shí),電流會(huì)流過襯底的整個(gè) n 區(qū)。當(dāng)在該MOSFET的柵極端施加負(fù)電壓時(shí),電荷載流子(如電子)將在介電層下方的 n 區(qū)域內(nèi)被排斥并向下移動(dòng)。因此,在通道內(nèi)將發(fā)生電荷載流子耗盡。
因此,整體溝道電導(dǎo)率降低。在這種情況下,一旦在 GATE 端施加相同的電壓,漏極電流就會(huì)減小。一旦負(fù)電壓進(jìn)一步增加,它就會(huì)達(dá)到夾斷模式。
這里的漏極電流是通過改變溝道內(nèi)電荷載流子的耗盡來控制的,所以這被稱為耗盡型MOSFET。這里,漏極端子處于+ve電位,柵極端子處于-ve電位,源極處于“0”電位。因此,與源極與柵極相比,漏極與柵極之間的電壓變化較高,因此與源極端相比,耗盡層寬度與漏極相比較高。
P溝道耗盡型MOSFET
在 P 溝道耗盡型MOSFET中,一小條 P 型半導(dǎo)體連接源極和漏極。源極和漏極為P型半導(dǎo)體,襯底為N型半導(dǎo)體。大多數(shù)電荷載流子是空穴。
p 溝道耗盡型MOSFET結(jié)構(gòu)與 n 溝道耗盡型MOSFET完全相反。該MOSFET包括一個(gè)在源極和漏極區(qū)域之間制成的溝道,該溝道用p 型雜質(zhì)重度摻雜。因此,在這個(gè)MOSFET中,使用了 n 型襯底,溝道為 p 型,如圖所示。
一旦我們在MOSFET的柵極端施加 +ve 電壓,那么 p 型區(qū)域中的少數(shù)電荷載流子(如電子)將由于靜電作用而被吸引并形成固定的負(fù)雜質(zhì)離子。因此,將在通道內(nèi)形成耗盡區(qū),因此,通道的電導(dǎo)率會(huì)降低。這樣,通過在柵極端施加+ve電壓來控制漏極電流。
一旦我們在MOSFET的柵極端施加 +ve 電壓,那么 p 型區(qū)域中的少數(shù)電荷載流子(如電子)將由于靜電作用而被吸引并形成固定的負(fù)雜質(zhì)離子。因此,將在通道內(nèi)形成耗盡區(qū),因此,通道的電導(dǎo)率會(huì)降低。這樣,通過在柵極端施加+ve電壓來控制漏極電流。
要激活這種耗盡型MOSFET,柵極電壓必須為 0V,并且漏極電流值要大,以便晶體管處于有源區(qū)。因此,再次打開這個(gè)MOSFET,+ve 電壓在源極端給出。因此,如果有足夠的正電壓并且在基極端子上沒有施加電壓,這個(gè)MOSFET將處于最大工作狀態(tài)并具有高電流。
要停用 P 溝道耗盡型MOSFET,有兩種方法可以切斷偏置正電壓,即為漏極供電,否則您可以向柵極端子施加 -ve 電壓。一旦向柵極端子提供-ve 電壓,電流將減小。隨著柵極電壓變得更負(fù),電流減小直到截止,然后MOSFET將處于“關(guān)閉”狀態(tài)。因此,這會(huì)阻止大的源極漏電流。
因此,一旦向該MOSFET的柵極端子提供了更多的 -ve 電壓,那么該MOSFET將在源極 - 漏極端子上傳導(dǎo)更少和更少的電流。一旦柵極電壓達(dá)到某個(gè) -ve 電壓閾值,它就會(huì)關(guān)閉晶體管。因此,-ve 電壓關(guān)閉晶體管。
N溝道耗盡型MOSFET的漏極特性
n 溝道耗盡型MOSFET的漏極特性如下所示。這些特性繪制在 VDS 和 IDSS 之間。當(dāng)我們繼續(xù)增加 VDS 值時(shí),ID 將增加。達(dá)到一定電壓后,漏極電流 ID 將變?yōu)槌?shù)。Vgs = 0 時(shí)的飽和電流值稱為 IDSS。
每當(dāng)施加的電壓為負(fù)時(shí),柵極端子處的該電壓就會(huì)將電荷載流子(如電子)推向基板。而且這個(gè) p 型襯底內(nèi)的空穴也會(huì)被這些電子吸引。因此,由于這個(gè)電壓,通道內(nèi)的電子將與空穴重新結(jié)合。復(fù)合的速率將取決于施加的負(fù)電壓。
一旦我們增加這個(gè)負(fù)電壓,復(fù)合率也會(huì)增加,這樣就會(huì)減少。該通道內(nèi)可用的電子數(shù)量,將有效地減少電流。
當(dāng)我們觀察上述特性時(shí),可以看出當(dāng) VGS 值變得更負(fù)時(shí),漏極電流會(huì)減小。在一定的電壓下,這個(gè)負(fù)電壓會(huì)變?yōu)榱?。該電壓稱為夾斷電壓。
這個(gè)MOSFET也適用于正電壓,所以當(dāng)我們在柵極端施加正電壓時(shí),電子將被吸引到 N 溝道。所以沒有。該通道內(nèi)的電子數(shù)量將增加。所以這個(gè)通道內(nèi)的電流會(huì)增加。所以對于正的 Vgs 值,ID 會(huì)比 IDSS 還要大。
N溝道耗盡型MOSFET的傳輸特性
N 溝道耗盡型MOSFET的傳輸特性如下所示,與 JFET 類似。這些特性定義了固定 VDS 值的 ID 和 VGS 之間的主要關(guān)系。對于正的 VGS 值,我們也可以得到 ID 值。
因此,特性曲線將延伸到右側(cè)。每當(dāng) VGS 值為正時(shí),沒有。通道內(nèi)的電子數(shù)會(huì)增加。當(dāng) VGS 為正時(shí),該區(qū)域?yàn)樵鰪?qiáng)區(qū)域。類似地,當(dāng) VGS 為負(fù)時(shí),該區(qū)域稱為耗盡區(qū)。
ID和Vgs的主要關(guān)系可以用ID = IDSS (1-VGS/VP)^2來表示。通過使用這個(gè)表達(dá)式,我們可以找到 Vgs 的 ID 值。
P溝道耗盡型MOSFET的漏極特性
P溝道耗盡型MOSFET的漏極特性如下所示。這里,VDS電壓為負(fù),Vgs電壓為正。一旦我們繼續(xù)增加 Vgs,Id(漏極電流)就會(huì)減小。在夾斷電壓下,該 Id(漏極電流)將變?yōu)榱?。一?VGS 為負(fù)值,則 ID 值甚至?xí)哂?IDSS。
P溝道耗盡型MOSFET的傳輸特性
P 溝道耗盡型MOSFET的傳輸特性如下所示,它是 n 溝道耗盡型MOSFET傳輸特性的鏡像。在這里我們可以觀察到,從截止點(diǎn)到 IDSS,正 VGS 區(qū)域的漏極電流增強(qiáng),然后隨著負(fù) VGS 值的增加,它繼續(xù)增加。
耗盡型MOSFET應(yīng)用包括:
(1)在恒流源和線性穩(wěn)壓器電路中用作傳輸晶體管。
(2)廣泛用于啟動(dòng)輔助電源電路。
(3)通常,這些MOSFET在沒有施加電壓時(shí)會(huì)打開,這意味著它們可以在正常條件下傳導(dǎo)電流。因此,這在數(shù)字邏輯電路中用作負(fù)載電阻。
(4)用于 PWM IC 內(nèi)的反激電路。
(5)用于電信交換機(jī)、固態(tài)繼電器等。
(6)用于電壓掃描電路、電流監(jiān)控電路、LED陣列驅(qū)動(dòng)電路等。
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